Validez y confiabilidad de la versión breve del la escala RED-tecnoestrés

Autores/as

  • Leandro Eidman Universidad Nacional del Chaco Austral; Concejo Nacional de Investigaciones Científicas y Tecnológicas (CONICET); Instituto de Neurociencias Argentina (INAR) https://orcid.org/0000-0002-4553-4773
  • Agostina del Rosario Munilla González Vedoya Concejo Nacional de Investigaciones Científicas y Tecnológicas (CONICET); Instituto de Neurociencias Argentina (INAR) https://orcid.org/0009-0003-7561-4269

DOI:

https://doi.org/10.46553/RPSI.21.41.2025.p59-77

Palabras clave:

tecnoestrés, versión abreviada, estudiantes universitarios

Resumen

El objetivo de este trabajo fue generar una versión corta de la Escala de Tecnoestrés. Para ello se analizó una muestra de 1656 estudiantes universitarios de edad promedio de 24.69 años (DE = 6.25; 78.25% mujeres, 21 % varones, 0.80% otro). Se obtuvo una versión corta de 10 elementos que cumplían con los criterios de validez, confiabilidad y aceptabilidad. Los elementos resultaron claros, no redundantes y altamente correlacionados con la puntuación total de la escala a la que pertenecían (entre .89 y .96). Además, la estructura factorial de segundo orden compuesta por diez reactivos presentó un buen ajuste y buena consistencia interna. Las correlaciones entre las versiones cortas de las escalas y las largas fueron todas positivas y altas (entre .84 y .96). Por otro lado, las mujeres puntuaron significativamente más alto y se encontraron diferencias significativas según tiempo de uso de computadora y celular para fines académicos. Además, se hallaron asociaciones negativas y significativas entre la edad y el tecnoestrés. Se concluye, de estos análisis, que la versión breve de la Escala de Tecnoestrés cuenta con adecuadas propiedades psicométricas pudiendo ser de utilidad tanto en investigaciones académicas como en contextos aplicados. Se transfiere tanto la escala como sus correspondientes baremos.

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Biografía del autor/a

Leandro Eidman, Universidad Nacional del Chaco Austral; Concejo Nacional de Investigaciones Científicas y Tecnológicas (CONICET); Instituto de Neurociencias Argentina (INAR)

Doctor en psicología, Docente Titular en UNCAUS

Agostina del Rosario Munilla González Vedoya, Concejo Nacional de Investigaciones Científicas y Tecnológicas (CONICET); Instituto de Neurociencias Argentina (INAR)

Licenciada en Psicología, Jefa de Trabajos Prácticos en UNCAUS 

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Publicado

30-04-2025

Cómo citar

Eidman, L., & Munilla González Vedoya, A. del R. (2025). Validez y confiabilidad de la versión breve del la escala RED-tecnoestrés. Revista De Psicología, 21(41), 59–77. https://doi.org/10.46553/RPSI.21.41.2025.p59-77

Número

Sección

Artículos